Государственные стандарты (ГОСТ)

Вы видите список ГОСТов, найденных в базе данных по Вашему запросу.

Для сужения зоны поиска, Вы можете задать коды ОКС и/или группы, к которым может относиться искомый документ. Код можно найти в справочнике, который вызывается нажатием соответствующей кнопки в окне «Поиск ГОСТ».

найдено: 129 документов (7 стр.) Страницы:  1  2   3   4  5  6  7

Номер ГОСТ Название Группа ОКС Стр Цена   ГОСТ 19138.0-85 Тиристоры. Общие требования к методам измерения параметров. Э29 31.080.20 5 500 ГОСТ 19138.1-85 Тиристоры. Метод измерения напряжения переключения. Э29 31.080.20 4 500 ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации. Э29 31.080 6 500 ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления. Э29 31.080 10 600 ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума. Э29 31.080 12 720 ГОСТ 18986.18-73 Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости. Э29 31.080.10 4 500 ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Методы измерения добротности. Э29 31.080.10 12 720 ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим. Э29 31.080 13 780 ГОСТ 18986.15-75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации. Э29 31.080 5 500 ГОСТ 18986.16-72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока. Э29 31.080.10 4 500 ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации. Э29 31.080 6 500 ГОСТ 18986.12-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода. Э29 31.080.10 5 500 ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора. Э29 31.080.10 6 500 ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений. Э29 31.080.10 15 900 ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления. Э29 31.080.10 9 540 ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности. Э29 31.080.10 7 500 ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь. Э29 31.080.10 10 600 ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления. Э29 31.080.10 9 540 ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда. Э29 31.080.10 6 500 ГОСТ 18986.8-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления. Э29 31.080.10 8 500

найдено: 129 документов (7 стр.) Страницы:  1  2   3   4  5  6  7